薄膜厚度測(cè)量?jī)xTHK-01主要參數(shù)
薄膜厚度測(cè)量?jī)xTHK-01適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測(cè)量,又稱為薄膜測(cè)厚儀、薄膜厚度測(cè)試儀等。
薄膜厚度測(cè)量?jī)x
薄膜厚度測(cè)量?jī)x主要參數(shù):
專業(yè)名稱:測(cè)厚儀
儀器型號(hào):THK-01
測(cè)量范圍:0~2mm(標(biāo)配);0~6mm、0~12mm(選配)
分辨率:0.1μm
測(cè)試速度:1~25次/min
測(cè)量頭平行度:±2μm(機(jī)械調(diào)整,量塊校驗(yàn))
重復(fù)性:0.3μm
測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張);
接觸面積:50mm2(薄膜); 200mm2 (紙張);
薄膜、紙張任選一種,非標(biāo)可定制
電源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
約凈重:30Kg
檢測(cè)原理:
將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上,與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面,以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。